TT220涂層測厚儀校準方法
為使TT220涂層測厚儀測量準確,應在測量場所對TT220涂層測厚儀進行校準。一、 TT220涂層測厚儀的校準標準片(包括箔和基體)
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。
⒈ 校準箔
對TT220涂層測厚儀“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準。
⒉ 有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于本儀器,覆蓋層應是非磁性的。
二、TT220涂層測厚儀的基體
⒈ 對于TT220涂層測厚儀標準基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了證實標準片的適用性,可用標準片的基體與待測試件基體上所測得的讀數進行比較。
⒉ 如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數表中所規定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進行校準:
1) 在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標準片上校準;
2) 用一足夠厚度的,電學或磁學性質相似的金屬襯墊標準片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。
⒊ 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準,則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率,應與試樣的曲率相同。
三、TT220涂層測厚儀的校準方法
TT220涂層測厚儀有兩種測量中使用的校準方法,零點校準;二點校準;還有一種針對測頭的基本校準。
⒈ TT220涂層測厚儀的零點校準
a. 在基體上進行一次測量,儀器顯示<×.×μm>。
b. 按一下“ON/C”鍵,屏顯<0.00μm>即完成零點校準。
c. 要準確地校準零點,須重復上述a、b 以獲得基體測量值小于1μm,這樣有利于提高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。
⒉ TT220涂層測厚儀的二點校準
a. 先校零點(見上)。
b. 在厚度大致等于預計的待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量,屏幕顯示<×××μm>。
c. 用▲或▼鍵修正讀數,使其達到標準片上的標稱值。校準已完成,可以開始測量了。
注意:即使顯示結果與標準片值符合,按▲、▼鍵也是*的,例如按一次▲鍵一次▼鍵。如欲較準確地進行二點校準,可重復b、c 過程,以提高校準的精度,減少偶然誤差。
⒊ TT220涂層測厚儀在噴沙表面上校準
噴沙表面的特性導致了測量值大大偏離真值,其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定
a. 儀器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準好。
b. 在未涂覆的經過同樣噴沙處理的表面測量10 次左右,得到平均值Mo。
c. 然后,在已涂覆的表面上測量10 次得到平均值Mm。
d. (Mm—Mo)±S 即是覆蓋層厚度。其中S(標準偏差)是SMm 和SMo 中較大的一個。
⒋ TT220涂層測厚儀的基本校準
在下述情況下,改變基本校準是有必要的:
──測頭頂端被磨損
──測頭修理后
──特殊的用途
在測量中,如果誤差明顯地超出給定范圍,則應對測頭的特性重新進行校準,稱為基本校準。通過輸入6 個校準值(一個零值和5 個厚度值)可重新校準測頭。
TT220涂層測厚儀基本校準操作方法如下:
a. 在儀器關閉狀態下按住▼鍵再按ON/C 鍵開機,隨著一聲鳴響即進入基本校準方式。屏幕顯示:B—Calibrate
b. 先校零值(見零點校準)。可連續重復多次,以獲得一個多次校準的平均值,這樣可提高校準的準確性。
c. 使用標準片,按厚度增加的順序做五個厚度的校準(見二點校準中的b、c)。每個厚度應至少是上一個厚度的1.6 倍以上,理想的情況是2倍。例如:50、100、200、400、800μm。zui大值應接近、但低于測頭的zui大測量范圍。
d. 在輸入6 個校準值后,測量一下零點,儀器自動關閉,新的校準值已存入儀器。當再次開機時,儀器將按新的校準值工作。
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